DIN 25604-5-1978 铁路车辆零件术.转向架(没有轮副、弹簧等运行装置).有轨内燃机车的自动转向架
作者:标准资料网 时间:2024-05-10 12:05:53 浏览:8490
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【英文标准名称】:Termsforrailwayvehicleparts;bogie(withoutwheelsets,springsetc.ofrunninggear),motorbogiefordieselrailcars
【原文标准名称】:铁路车辆零件术.转向架(没有轮副、弹簧等运行装置).有轨内燃机车的自动转向架
【标准号】:DIN25604-5-1978
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1978-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:铁路车辆零部件;铁道车辆;行车机构;定义
【英文主题词】:definitions;railwayvehiclecomponents;railwayvehicles;bogies
【摘要】:
【中国标准分类号】:S30;S33
【国际标准分类号】:01_040_45
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
基本信息
标准名称: | 铁路铅基轴承合金分析方法 |
中标分类: |
铁路 >>
机车车辆通用标准 >>
通用零部件 |
发布日期: | |
实施日期: | 2004-08-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
页数: | 16页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
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引用标准
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所属分类: 铁路 机车车辆通用标准 通用零部件
【英文标准名称】:TestMethodforEstimatingElectromigrationMedianTime-To-FailureandSigmaofIntegratedCircuitMetallizations
【原文标准名称】:评定电迁移平均失效时间和集成电路金属喷镀σ值的测试方法
【标准号】:ASTMF1260-1989
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:1989
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F30.01
【标准类型】:(TestMethod)
【标准水平】:()
【中文主题词】:试验;应力;失效率;微电子学;喷镀金属
【英文主题词】:Acceleratedaging/testing-semiconductors;Ambientstresstemperature;Current-densitystress;Defects-semiconductors;Electricalconductors-semiconductors;Electromigration;Failureendpoint-electroniccomponents/devices;Integratedcircuits;Met
【摘要】:1.1Thistestmethodisdesignedtocharacterizethefailuredistributionofinterconnectmetallizationssuchasareusedinmicroelectroniccircuitsanddevicesthatfailduetoelectromigrationunderspecifiedd-ccurrent-densityandtemperaturestress.Thistestmethodisintendedtobeusedonlywhenthefailuredistributioncanbedescribedbyalog-Normaldistribution.1.2Thistestmethodisintendedforuseasarefereemethodbetweenlaboratoriesandforcomparingmetallizationalloysandmetallizationspreparedindifferentways.Itisnotintendedforqualifyingvendorsorfordeterminingtheuse-lifeofametallization.1.3Thetestmethodisanacceleratedstresstestoffour-terminalstructures(seeGuideF1259)wherethefailurecriterioniseitheranopencircuitinthetestlineoraprescribedpercentincreaseintheresistanceoftheteststructure.1.4Thistestmethodallowstheteststructuresofatestchiptobestressedwhilestillpartofthewafer(oraportionthereof)orwhilebondedtoapackageandelectricallyaccessibleviapackageterminals.1.5Thistestmethodisnotdesignedtocharacterizethemetallizationforfailuremodesinvolvingshortcircuitsbetweenadjacentmetallizationlinesorbetweentwolevelsofmetallization.1.6Thistestmethodisnotintendedforthecasewherethestresstestisterminatedbeforeallpartshavefailed.1.7Thisstandardmayinvolvehazardousmaterials,operations,andequipment.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyproblemsassociatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappropriatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplicabilityofregulatorylimitationspriortouse.
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:7P.;A4
【正文语种】: