ASTM F 865-1984 厚膜器件陶瓷基片横向弯曲度的试验方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-28 05:27:53  浏览:9447   来源:标准资料网

【英文标准名称】:TestMethodsforGrossCamberofCeramicSubstratesforThickFilmApplications
【原文标准名称】:厚膜器件陶瓷基片横向弯曲度的试验方法
【标准号】:ASTMF865-1984
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:1984
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:使用;突出物;电子工程;试验;衬底(绝缘);陶瓷
【英文主题词】:ceramics;electronicengineering;prominences;substrates(insulating);applications;testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:Q30
【国际标准分类号】:81_060_10
【页数】:3P;A4
【正文语种】:英语